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大型环形可展开天线型面高精度测试方法研究

大型环形可展开天线型面高精度测试方法研究

作     者:段浩 蒲理华 武永美 范洋 任瑞敏 DUAN Hao;PU Lihua;WU Yongmei;FAN Yang;REN Ruimin

作者机构:中国空间技术研究院西安分院西安710000 

基  金:航天科技集团公司重大工艺技术研究(编号:ZDGY2013-24) 

出 版 物:《空间电子技术》 (Space Electronic Technology)

年 卷 期:2022年第19卷第6期

页      码:107-114页

摘      要:天线反射器型面精度是衡量、评价天线质量的重要指标之一,天线型面精度的高低将直接影响天线的电性能指标。大型环形可展开天线型面精度测试,目前多采用高精度工业数字化摄影测量技术进行,在使用高精度数字化摄影测量系统对大型环形可展开天线开展型面测试过程中,系统测量精度主要受摄影基准选用、测量距离、测量靶标大小、测量角度、测量拍照数量、相机参数等多项工艺参数影响。就如何使用数字化摄影测量系统对大型环形可展开天线开展高精度型面测试方法开展研究,通过对高精度长基准尺的设计及布局研究,以及对摄影测量系统最优匹配工艺参数研究及验证,得到一种针对大型环形可展开天线开展高精度型面测试的方法。试验证明,该方法可靠有效,能够满足大型环形可展开天线开展型面高精度测试的测量需求。

主 题 词:环形可展开天线 高精度长基准尺 最优工艺参数 型面高精度测试 

学科分类:080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 0825[工学-环境科学与工程类] 

D O I:10.3969/j.issn.1674-7135.2022.06.016

馆 藏 号:203118039...

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