一种提升芯片SPI性能评估能力的方法

作     者：刘刚 LIU Gang

作者机构：北京中电华大电子设计有限责任公司射频识别芯片检测技术北京市重点实验室 

出 版 物：《中国集成电路》 (China lntegrated Circuit)

年 卷 期：2023年第32卷第1期

页      码：82-86页

摘      要：本文介绍了一种提升芯片SPI接口通讯速度性能评估能力的方法。通过一种创新的COS设计方法,解决了传统方法的瓶颈,提高了芯片SPI接口通讯性能的评估能力,使SPI接口时钟频率从10 MHz提高到30 MHz。

主 题 词：SPI接口 COS设计 开发工具 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1681-5289.2023.01.017

馆 藏 号：203118150...