基于功能结构的数字系统可测试性设计

作     者：陈超 吴金 常昌远 魏同立 

作者机构：东南大学微电子中心南京210096 

出 版 物：《电子器件》 (Chinese Journal of Electron Devices)

年 卷 期：2002年第25卷第2期

页      码：170-173页

摘      要：可测性设计DFT技术已成为IC设计中的一个重要技术。对于不同复杂程度及规模的IC ,应选择不同策略的测试方案以达到设计成本和周期的目标。

主 题 词：可测试性设计 微处理器 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.3969/j.issn.1005-9490.2002.02.014

馆 藏 号：203118151...