图计算在ATPG中的应用探究

作     者：毛伏兵 彭达 张宇 廖小飞 姜新宇 杨赟 金海 赵进 刘海坤 王柳峥 Fubing MAO;Da PENG;Yu ZHANG;Xiaofei LIAO;Xinyu JIANG;Yun YANG;Hai JIN;Jin ZHAO;Haikun LIU;Liuzheng WANG

作者机构：华中科技大学大数据技术与系统国家地方联合工程研究中心武汉430074 华中科技大学服务计算与系统教育部重点实验室武汉430074 华中科技大学集群与网格计算湖北省重点实验室武汉430074 华中科技大学计算机科学与技术学院武汉430074 华为海思半导体有限公司深圳518129 

基　　金：国家自然科学基金(批准号:61832006,61825202,62072193) 中央高校基本科研业务费资助(HUST)(批准号:2020kfyXJJS018,2020kfyXJJS109)项目 

出 版 物：《中国科学：信息科学》 (Scientia Sinica(Informationis))

年 卷 期：2023年第53卷第2期

页      码：211-233页

摘      要：ATPG(automatic test pattern generation)是VLSI(very large scale integration circuits)电路测试中非常重要的技术,它的好坏直接影响测试成本与开销.然而现有的并行ATPG方法普遍存在负载不均衡、并行策略单一、存储开销大和数据局部性差等问题.由于图计算的高并行度和高扩展性等优点,快速、高效、低存储开销和高可扩展性的图计算系统可能是有效支持ATPG的重要工具,这将对减少测试成本显得尤为重要.本文将对图计算在组合ATPG中的应用进行探究;介绍图计算模型将ATPG算法转化为图算法的方法;分析现有图计算系统应用于ATPG面临的挑战;提出面向ATPG的单机图计算系统,并从基于传统架构的优化、新兴硬件的加速和基于新兴存储器件的优化几个方面,对图计算系统支持ATPG所面临的挑战和未来研究方向进行了讨论.

主 题 词：图计算 超大规模集成电路 自动测试向量生成 电子设计自动化 电路测试 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 07[理学] 08[工学] 070104[070104] 0701[理学-数学类] 

核心收录：

D　O　I：10.1360/SSI-2021-0267

馆 藏 号：203118215...