感性绕组直流电阻测量方法及ARM技术的应用

作     者：李宗义 姜毅龙 王泽荫 马跃洲 LI Zong-yi;JIANG Yi-long;WANG Ze-yin;MA Yue-zhou

作者机构：甘肃机电职业技术学院甘肃天水741001 兰州理工大学材料科学与工程学院兰州730050 

出 版 物：《兰州大学学报（自然科学版）》 (Journal of Lanzhou University(Natural Sciences))

年 卷 期：2011年第47卷第3期

页      码：122-126页

摘      要：提出了一种以32位ARM系列微控制器LPC2124为主控核心的感性绕组直流电阻测量方案,围绕如何提高测量精度和缩短过渡过程时间,介绍了测量系统的软硬件设计.通过助磁、同步采样、高压充电低压测量、程控放电法来实现感性绕阻直流电阻测试的方法和原理,可显著地缩短充放电的时间,提高测量精度.

主 题 词：ARM 嵌入式 直流电阻 快速测量 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

核心收录：

D　O　I：10.13885/j.issn.0455-2059.2011.03.011

馆 藏 号：203118453...