含多规格接触对的电连接器贮存寿命评估

作     者：王友维 钱萍 王哲 姚华军 林敏 

作者机构：浙江理工大学机电产品可靠性分析与测试国家地方联合工程研究中心浙江 杭州 北京控制与电子技术研究所北京 杭州航天电子技术有限公司浙江 杭州 

出 版 物：《建模与仿真》 (Modeling and Simulation)

年 卷 期：2023年第12卷第2期

页      码：751-762页

摘      要：针对含多种规格接触对电连接器的贮存可靠性问题,以某型电连接器为例,在分析其失效机理的基础上设计了加速退化试验获取性能退化数据,提出了加速应力下含多种规格接触对的电连接器可靠性评估方法。首先通过分析其失效机理,得到了产品的性能退化模型,并且以温度作为加速应力设计了加速退化试验,同时以低应力水平为例计算两种规格接触对的退化模型参数以及寿命模型参数,其次结合加速模型,推导出两种规格接触对在正常应力下的可靠度函数,最后根据串联模型计算得到某型电连接器在正常应力下的可靠寿命。结果表明,提出的含多种规格接触对的可靠性评估方法实用、有效,实现了某多规格接触对电连接器的可靠性评估并且为其他含多规格接触对电连接器产品可靠性评估工作提供借鉴和参考。

主 题 词：电连接器 可靠性评估 加速退化试验 加速应力 正常应力 串联模型 失效机理 可靠度函数 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.12677/MOS.2023.122071

馆 藏 号：203118646...