脑皮质突触结构透射电镜统计方法的探索

作     者：杨洋 王贤哲 张文静 毕研哲 杨波 李峥 毕爱玲 陈哲宇 李伯勤 YANG Yang;WANG Xian-zhe;ZHANG Wen-jing;BI Yan-zhe;YANG Bo;LI Zheng;BI Ai-ling;CHEN Zhe-yu;LI Bo-qin

作者机构：山东微亚生物科技有限公司超微结构实验室山东济南250000 山东中医药大学附属眼科医院山东济南250004 山东大学医学院山东济南250012 

出 版 物：《电子显微学报》 (Journal of Chinese Electron Microscopy Society)

年 卷 期：2023年第42卷第1期

页      码：75-79页

摘      要：利用透射电镜(TEM)对神经突触结构进行统计学分析,虽然在近年来的神经科学研究中已被一些学者使用,但由于脑组织TEM样品较小,突触结构涉及亚细胞统计学,所以如何设计统计源,以保证其具有代表性与客观性是至关重要的问题,至今仍未建立成熟一致的标准。本文针对大鼠特定脑区,采用“三级定位法”,建立了一种突触结构的TEM统计分析方法,简单并具有客观性,被应用于多项神经生物学研究。该方法可为动物行为学、电生理学和神经分子生物学实验提供客观的亚细胞统计学佐证,可为相关研究提供参考方法。

主 题 词：脑组织 突触 透射电镜 统计分析 

学科分类：0710[理学-生物科学类] 07[理学] 09[农学] 071007[071007] 0901[农学-植物生产类] 090102[090102] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-6281.2023.01.011

馆 藏 号：203118680...