利用边界扫描解决PC卡测试难题

作     者：郭旺 

出 版 物：《电子测试》 (Electronic Test)

年 卷 期：1999年第12卷第12期

页      码：222-223页

摘      要：每一个设计工程师都面临着这样一个挑战:要在不断减小的电路板空间内集成越来越多的电路功能。由于只有有限的可利用空间,从测试观点看,常规小型化技术很快就要接近其临界值。本文阐述了如何在PCMCIA(PC卡)模块上实现成功的测试策略,这种测试方法使用了板上芯片(COB)技术以及边界扫描测试。

主 题 词：边界扫描器件 测试策略 快闪存贮器 连接测试 边界扫描测试 小型化 电路板 测试方法 测试观点 难题 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203118690...