老炼试验中上下拉电阻实例分析

作     者：周杰 周蕾 成锡军 ZHOU Jie;ZHOU Lei;CHENG Xijun

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2023年第1期

页      码：87-90页

摘      要：在芯片正常运行过程中,需要对特定的IO烧录口进行电平钳制,即保持在高/低电平。为了达到这样的目的,在设计硬件时,需要给烧录口进行上下拉电阻的匹配。从实际中的一个具体项目出发解释了正确使用上下拉电阻对芯片信号的影响和作用。通过查阅相关资料,并结合本次项目试验和经验总结,阐述了上下拉电阻的使用和选择方法,以期能够提高信号稳定性并为硬件设计工程师提供一些帮助或灵感。

主 题 词：IO 上/下拉电阻 信号 稳定性 电平钳制 

学科分类：07[理学] 070104[070104] 0701[理学-数学类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2023.01.019

馆 藏 号：203118695...