利用双压控晶振降低锁相环中的相位噪声

作     者：赵晨 钱玮 

作者机构：南京电子计量有限公司 

出 版 物：《通信与广播电视》 (Communication & Audio and Video)

年 卷 期：2012年第3期

页      码：52-57页

摘      要：锁相环作为现代电子系统中系统的基本构建模块，具有十分重要的作用。进一步提高锁相环的性能，会对整个电子系统性能的提升提供一个保证。利用双压控晶振的设计，可以有效地降低锁相环中的相位噪声，减少噪声对系统的影响，进而提升系统的性能。

主 题 词：VCXO PLL相位噪声 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

馆 藏 号：203119170...