高速电路信号完整性的测试方法及分析

作     者：卢东昕 张攀科 蔡文晖 李华驿 Lu Dongxin;Zhang Panke;Cai Wenhui;Li Huayi

作者机构：中兴通讯股份有限公司技术中心研究部广东深圳518057 中兴通讯股份有限公司技术中心研究部广东深圳518057 西安电子科技大学通信工程学院陕西西安710071 

基　　金：国家"863"计划资金资助(2002AA121051) 

出 版 物：《电子科技》 (Electronic Science and Technology)

年 卷 期：2005年第18卷第5期

页      码：2-5页

摘      要：在高速数字系统设计中,信号完整性问题是必须慎重考虑的问题。该文就1Gbps以上的高速信号,对其信号完整性的测试方法进行了详细论述,包括TDR阻抗测试、眼图测试和串扰测试等。运用这些方法,给出了一个3.125Gbps背板的实际测试结果,并针对两种不同的测试设备进行了对比分析。

主 题 词：信号完整性 TDR 哏图 

学科分类：07[理学] 08[工学] 070104[070104] 081101[081101] 0701[理学-数学类] 0811[工学-水利类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1007-7820.2005.05.001

馆 藏 号：203119303...