看过本文的还看了

相关文献

该作者的其他文献

文献详情 >用光学仪器测量表面粗糙度参数的微机处理方法 收藏
用光学仪器测量表面粗糙度参数的微机处理方法

用光学仪器测量表面粗糙度参数的微机处理方法

作     者:田朝平 

作者机构:内蒙古工业大学机械工程系 

出 版 物:《内蒙古工业大学学报(自然科学版)》 (Journal of Inner Mongolia University of Technology:Natural Science Edition)

年 卷 期:1995年第14卷第4期

页      码:23-28页

摘      要:本文利用BASIC语言编制了一套应用程序,可利用光切显微镜实测的数据,得到国家标准规定的六个参数。

主 题 词:表面粗糙度参数 测量 程序设计 光学仪器 微机 

学科分类:08[工学] 0803[工学-仪器类] 

馆 藏 号:203119313...

读者评论 与其他读者分享你的观点

用户名:未登录
我的评分