易测试PLA的一种新设计及其测试方法

作     者：张微 叶志镇 

作者机构：浙江省电力职工大学浙大硅材料国家重点实验室 

出 版 物：《浙江大学学报（自然科学版）》 (Journal of Zhejiang University(Engineering Science))

年 卷 期：1996年第30卷第6期

页      码：729-735页

摘      要：本文提出了一种易测试ＰＬＡ的新设计，这种设计使ＰＬＡ易于测试，所增加的硬件只是一个ｍ位移位寄存器．本文还详述了对这种ＰＬＡ进行测试的方法，该测试方法只需要很少的测试向量，测试结果计算简单，具有很高的故障复盖率．

主 题 词：可编逻辑阵列 PLA 测试向量 故障复盖率 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

核心收录：

馆 藏 号：203119362...