罗德与施瓦茨公司和Atmel共推数字测试模块R＆S TS-PHDT

出 版 物：《电子设计应用》 (Electronic Design & Application World for Design and Application Engineers)

年 卷 期：2007年第10期

页      码：135-136页

摘      要：罗德与施瓦茨公司日前推出和Atmel射频与汽车业务部紧密合作共同开发的高速数字测试模块R＆S TS-PHDT，支持高达40MHz的数据速率以及1．5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，

主 题 词：罗德与施瓦茨公司 Atmel 测试模块 存储容量 数据速率 激励信号 电子组件 测试数据 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203119391...