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微环光开关的偏振相关损耗研究(英文)

微环光开关的偏振相关损耗研究(英文)

作     者:张中一 武保剑 文峰 廖明乐 邱昆 ZHANG Zhong-yi;WU Bao-jian;WEN Feng;LIAO Ming-le;QIU Kun

作者机构:电子科技大学通信与信息工程学院光纤传感与通信教育部重点实验室成都611731 

基  金:The National Natural Science Foundation of China(No.61271166) the National High Technology Research and Development Program of China(No.2013AA014402) 

出 版 物:《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)

年 卷 期:2015年第44卷第7期

页      码:39-44页

摘      要:提出一种可同时支持横电模和横磁模传输的微环光开关设计方法,可用于构建波长平面内的偏振无关交换芯片.为了实现微环光开关的偏振无关传输,横电模和横磁模应工作在同一谐振波长且在该波长处有相同的群折射率,据此采用MODE Solutions优化基于硅绝缘体波导结构的微环参数,建立Interconnect芯片仿真模型,考察微环光开关芯片的透射特性和传输特性.经过优化设计,微环光开关的偏振相关损耗低至0.13dB,光脉冲传输时延为42.5ps.研究表明,当微环长度偏离优化值约5nm时,偏振相关损耗就会增加到1dB,其中热光效应可以用来弥补工艺偏差,温度每变化1 K,则可弥补2.2nm的环长偏差.

主 题 词:微环谐振器 光开关 芯片仿真 偏振相关损耗 热光效应 

学科分类:070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录:

D O I:10.3788/gzxb20154407.0713002

馆 藏 号:203120497...

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