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测试诊断与保障信息化专题研讨会圆满闭幕

测试诊断与保障信息化专题研讨会圆满闭幕

出 版 物:《电子设计应用》 (Electronic Design & Application World)

年 卷 期:2010年第8卷第1期

页      码:17-17页

摘      要:由北京航天测控技术开发公司主办,《电子设计应用》杂志社协办的全国巡演活动——"测试诊断与保障信息化"专题研讨会于2009年11月17日至20日分别在上海和成都成功举行。在该研讨会上,马好东副总经理率领北京航天测控公司的技术专家团队与来自航空、航天、兵器、船舶、电子等军工单位以及民用电子、交通、汽车、通信。

主 题 词:军工单位 测试诊断 航天测控 专家团队 技术开发公司 产品展示区 系统演示 通用测试 日至 寿命周期 

学科分类:0202[经济学-财政学类] 02[经济学] 020205[020205] 

馆 藏 号:203120914...

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