微带电路无源互调干扰问题综述

作     者：赵小龙 贺永宁 崔万照 ZHAO Xiaolong;HE Yongning;CUI Wanzhao

作者机构：西安交通大学电子与信息学部微电子学院陕西西安710049 西安交通大学西安市微纳电子与系统集成重点实验室陕西西安710049 中国空间技术研究院西安分院空间微波技术重点实验室陕西西安710100 

出 版 物：《太赫兹科学与电子信息学报》 (Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology)

年 卷 期：2023年第21卷第3期

页      码：263-270页

摘      要：无源互调(PIM)干扰是微波射频电路面临的主要可靠性问题之一,随着微波射频电路小型集成化发展,微带电路无源互调效应研究开始受到工业界和学术界广泛关注。研究微带电路无源互调机理、评估和抑制方法,对于制备小型化、高可靠性微波射频电路具有重要价值。与腔体部件相比,微带电路的非线性往往是分布的,且与基材选择、制造工艺和器件结构等方面都有重要关系,因此研究难度更大。近年来虽然关注微带电路互调的研究越来越多,但依然难以直接指导微带电路的实际设计。基于此,本文系统论述了近年来微带电路无源互调领域的研究情况,包括非线性机理、仿真建模以及测试诊断等方面,为未来更深入地研究微带电路无源互调效应提供参考。

主 题 词：微带电路 无源互调 非线性 电热耦合 介电非线性 

学科分类：080904[080904] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.11805/TKYDA2022192

馆 藏 号：203120982...