基于中国余数定理和CSD乘法的线性卷积设计

作     者：张振宇 叶甜春 徐建华 ZHANG Zhen-yu;YE Tian-chun;XU Jian-hua

作者机构：中国科学院微电子研究所北京10029 杭州中科微电子有限公司浙江杭州310053 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2009年第26卷第12期

页      码：43-46页

摘      要：给出了应用中国余数定理和CSD乘法实现线性卷积的算法.将一维循环卷积映射为多维循环卷积,缩减算法强度,使乘法数量降到最少;通过移位相加实现常系数乘法,系数采用正则符号数编码使加法数量最小.利用循环卷积和线性卷积的关系,计算线性卷积,使线性卷积的功耗和面积最小.最后采用modelsim仿真和quartus7.2综合,并将仿真结果与理论计算结果进行了比较.表明该线性卷积器工作可靠、精度高,具有较好的实用价值.

主 题 词：中国余数定理 CSD常系数乘法 线性卷积 循环卷积 流水线 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2009.12.013

馆 藏 号：203120997...