基于高加速应力筛选的电子产品筛选剖面研究

作     者：诸戈 汤杰 漆斌 郭森 姚永超 ZHU Ge;TANG Jie;QI Bin;GUO Sen;YAO Yongchao

作者机构：上海机电工程研究所上海201109 上海航天精密机械研究所上海201600 

基　　金：国防基础科研计划(JCKY2016203C009) 

出 版 物：《空天防御》 (Air & Space Defense)

年 卷 期：2023年第6卷第1期

页      码：17-22,37页

摘      要：为了提升产品和工艺设计的质量,主要是为消除初期产品的失效率从而提高其平均无故障时间,进一步地节约产品成本,基于高加速应力筛选的剖面设计理论要求,针对电子产品通过具体失效分析和试验剖面设计优化,给出电子产品高加速应力筛选的一般性筛选剖面条件,可以作为各电子产品进行高加速应力筛选的参考依据,提升其筛选试验效率。

主 题 词：高加速应力筛选 电子产品 筛选剖面 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.2096-4641.2023.01.004

馆 藏 号：203121001...