基于JTAG的高效调试系统设计与实现

作     者：张梅娟 辛昆鹏 王丽娟 邓佳伟 Zhang Meijuan;Xin Kunpeng;Wang Lijuan;Deng Jiawei

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214063 

出 版 物：《电子技术应用》 (Application of Electronic Technique)

年 卷 期：2023年第49卷第4期

页      码：39-43页

摘      要：为了给自研处理器芯片提供一种高效方便的调试方法,提出了一种基于JTAG的片内调试系统设计方法。该调试系统在遵循JTAG标准协议的基础上,简化片内调试硬件模式设计,以较少的硬件开销和精简高效的专用调试指令设计,不仅实现了调试中断、指令/数据断点设置、单步执行及寄存器/存储器数据读写等基本调试功能,还支持现场保护与恢复、Trace Buffer、指令插入执行等高级调试功能。经实际芯片测试证明,该调试系统具有兼容JTAG协议、功能全面、灵活高效、结构简单、便于操作等特点。

主 题 词：调试系统 JTAG接口 IEEE1149.1 TAP控制器 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16157/j.issn.0258-7998.223168

馆 藏 号：203121178...