可编程逻辑器件CPLD的高温动态老炼试验设计

作     者：吴宏丽 Wu Hongli

作者机构：天津航空机电有限公司天津300308 

出 版 物：《山西电子技术》 (Shanxi Electronic Technology)

年 卷 期：2023年第2期

页      码：55-59页

摘      要：复杂可编程逻辑器件(Complex Programmable Logic Device, CPLD)被广泛应用在通讯、电子、航空航天等领域的电路设计。在电路设计中,CPLD器件的可靠性将直接影响整个电路工作的稳定性。为了提高CPLD器件的可靠性,需要进行筛选试验,而老炼试验是有效的可靠性筛选试验手段。基于此,对CPLD高温动态老炼试验技术进行了研究,并以EPM7032AETC44-10N器件为例,提出了高温动态老炼试验方案设计并验证,达到了预期的设计目的。

主 题 词：高温动态老炼试验 CPLD 可靠性 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 0835[0835] 081002[081002] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4578.2023.02.020

馆 藏 号：203121266...