一种高阶补偿低温漂带隙基准源

作     者：邓玉清 高宁 DENG Yuqing;GAO Ning

作者机构：中国电子科技集团公司第58研究所江苏无锡214035 

出 版 物：《现代电子技术》 (Modern Electronics Technique)

年 卷 期：2023年第46卷第10期

页      码：7-10页

摘      要：基于0.18μm CMOS工艺,设计一种带有高阶补偿结构的低温漂系数带隙基准电路。在传统带隙基准的结构上,利用当三极管的集电极电流工作在不同温度特性下的基极与发射极的电位之差含有的高阶补偿量,对传统结构进行补偿,从而得到一个温度系数极低的带隙基准源。仿真结果表明,所设计电路整体结构简单、易实现,在-55~125℃的温度范围内,温漂系数仅为2.52 ppm/℃,低频时的电源抑制比为-78 dB。

主 题 词：高阶补偿 低温漂 带隙基准源 结构补偿 电路设计 电路仿真 CMOS工艺 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.16652/j.issn.1004-373x.2023.10.002

馆 藏 号：203121375...