基于AEC标准的汽车芯片可靠性测试方法研究

作     者：王敦 章慧彬 张凯虹 陆坚 虞勇坚 闫辰侃 WANG Dun;ZHANG Huibin;ZHANG Kaihong;LU Jian;YU Yongjian;YAN Chenkan

作者机构：中科芯集成电路有限公司江苏无锡214072 无锡中微腾芯电子有限公司江苏无锡214028 

基　　金：国家自然科学基金项目(52101055) 

出 版 物：《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期：2023年第31卷第14期

页      码：103-106,112页

摘      要：近年来,自动驾驶技术逐渐成为Tier1汽车电子智能系统的最先进技术,解决自动驾驶技术的关键在于提升自动驾驶芯片的可靠性,保障汽车运行中的安全。目前国内尚未有关于汽车芯片可靠性的标准,该文基于国际AEC-Q100系列标准,结合可靠性加速因子,研究了可靠性测试方法以及数据管控方法,根据参数零件平均测试PPAT方法,优化了静态PAT和动态PAT测试流程,为提高国产汽车芯片质量可靠性提供一定的参考依据。

主 题 词：汽车芯片 IATF16949 AEC标准 可靠性测试 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081001[081001] 

D　O　I：10.14022/j.issn1674-6236.2023.14.021

馆 藏 号：203122515...