基于FPGA和STM32的放大电路特性测试仪设计

作     者：孙艳丽 林星瑞 叶李锐 王国庆 SUN Yanli;LIN Xingrui;YE Lirui;WANG Guoqing

作者机构：海军航空大学烟台264000 

出 版 物：《舰船电子工程》 (Ship Electronic Engineering)

年 卷 期：2023年第43卷第4期

页      码：163-166,189页

摘      要：设计一简易电路特性测试仪,测量特定放大电路的特性并自动判断由于元器件变化而引起故障。该测试仪的硬件电路由STM32处理器模块、FPGA模块、模数转换模块、精密整流电路、电压隔离器等基本电路组成。其中FPGA模块完成数据分析功能,STM32实现正弦波信号的产生、基本特性数据的处理和显示控制。通过实际电路测试,该测试仪能实现特定放大电路特性测试并以此为依据进行常见故障的诊断。

主 题 词：FPGA STM32 幅频特性 故障检测 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-9730.2023.04.034

馆 藏 号：203122709...