一种新型的表面深度测量系统

作     者：裘越 王志强 叶怀储 余桂英 陈欢 潘璐 Qiu Yue;Wang Zhiqiang;Ye Huaichu;Yu Guiying;Chen Huan;Pan Lu

作者机构：浙江省计量科学研究院杭州310013 中国计量学院杭州310018 

出 版 物：《现代制造工程》 (Modern Manufacturing Engineering)

年 卷 期：2014年第2期

页      码：103-106页

摘      要：针对表面深度测量,设计了一种新型小型化检测系统,能够检测物体表面的深度信息。该系统硬件部分以激光线结构光作为光源,设计可调节光路,应用CMOS图像传感器采集图像。软件部分利用VC++设计应用软件,完成图像预处理、参数标定和求取深度参数。应用最小二乘法对系统进行全局多点标定,试验结果表明,全局多点标定的表面深度测量结果比以往的单点标定更加准确。

主 题 词：表面深度检测 可调光路 多点标定 

学科分类：08[工学] 0803[工学-仪器类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-3133.2014.02.023

馆 藏 号：203122721...