基于DDS的频率特性测试仪

作     者：操长茂 

作者机构：江汉大学物理与信息工程学院湖北武汉430056 

出 版 物：《半导体技术》 (Semiconductor Technology)

年 卷 期：2003年第28卷第12期

页      码：44-46页

摘      要：介绍了基于DDS设计的频率特性测试仪,整个系统以单片机为控制核心,实现了对被测网络频率特性的测量,用液晶显示器LCD显示幅频特性和相频特性曲线,同时还可打印频响曲线。

主 题 词：幅频特性 相频特性:单片机 DDS 频率特性测试仪 

学科分类：080802[080802] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-353X.2003.12.013

馆 藏 号：203123200...