EEPROM存储数据耗时问题探究分析

作     者：石永慧 Shi Yonghui

作者机构：山西职业技术学院山西太原030006 

基　　金：第二批国家级职业教育教师教学创新团队课题研究项目(ZI2021120303) 

出 版 物：《山西电子技术》 (Shanxi Electronic Technology)

年 卷 期：2023年第4期

页      码：93-96页

摘      要：某嵌入式压力处理传感器软件在EEPROM存储器存储故障字过程中耗时太久,不符合所要求的30%时间余量。因此,不能在规定的时间内进行故障字存储操作。即故障字存储耗时过久导致时间余量达不到要求。针对这一问题,通过对存储芯片本身特性的分析,结合存储器本身特性,设计了一种加快存储器存储方法,提高存取时间,满足余量的要求。实验结果证明,该方法的准确率和效率,均达到了预期目标。

主 题 词：EEPROM 故障字 耗时 

学科分类：08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1674-4578.2023.04.032

馆 藏 号：203123300...