基于零中频正交解调的频率特性测试仪设计

作     者：肖素华 XIAO Suhua

作者机构：湖南铁道职业技术学院湖南412001 

出 版 物：《电子技术（上海）》 (Electronic Technology)

年 卷 期：2023年第52卷第7期

页      码：31-33页

摘      要：阐述一款零中频正交解调的频率特性测试仪的设计,包括STM32单片机为硬件平台,采用AD9854,被测网络采用RLC串联谐振电路,测试范围为1~40MHz、最小步进100kHz,经单片机进行数据处理,得到信号的相位和幅度,通过液晶显示幅频特性和相频特性曲线。经过测试,该设备能按要求正确绘制被测网络的幅频特性曲线和相频特性曲线,中心频率的相对误差小于0.1%,有载品质因数相对误差小于2%。

主 题 词：频率特性测试 串联谐振电路 幅频特性和相频特性 单片机 

学科分类：080902[080902] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081201[081201] 0812[工学-测绘类] 

馆 藏 号：203123317...