数字电视解调芯片的可测试性设计与优化

作     者：林平分 余会星 

作者机构：北京工业大学嵌入式系统重点实验室北京100022 

出 版 物：《微电子学与计算机》 (Microelectronics & Computer)

年 卷 期：2008年第25卷第8期

页      码：172-175页

摘      要：介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求.

主 题 词：可测试性设计 故障模型 测试图形 测试覆盖率 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2008.08.045

馆 藏 号：203123413...