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用于GaN半桥驱动的高可靠欠压锁定电路

用于GaN半桥驱动的高可靠欠压锁定电路

作     者:李亮 周德金 黄伟 陈珍海 LI Liang;ZHOU Dejin;HUANG Wei;CHEN Zhenhai

作者机构:苏州市职业大学电子信息工程学院江苏苏州215104 清华大学无锡应用技术研究院江苏无锡214072 复旦大学微电子学院上海200433 黄山学院智能微系统安徽省工程技术研究中心安徽黄山245041 

基  金:智能微系统安徽省工程技术研究中心开放项目(MSZXXM2001) 苏州市科技计划(SZS2022015) 

出 版 物:《电子与封装》 (Electronics & Packaging)

年 卷 期:2023年第23卷第9期

页      码:41-44页

摘      要:设计了一种用于GaN栅驱动芯片的高可靠欠压锁定电路,该电路能精确响应并输出保护信号以确保电路安全。欠压锁定采用快速响应的差分比较器电路与电阻分压采样,避免了反馈回路开关噪声引起的电路不稳定问题。在欠压锁定电路中加入电源毛刺检测电路以确保产生稳定可靠的欠压锁定信号。基于CSMC 0.18μm BCD工艺,完成了电路设计。仿真结果表明,供电电压上升时阈值电压为7.3 V、下降时阈值电压为5.8 V,迟滞量为1.5 V,避免了电路在阈值电压附近反复开启与关断。

主 题 词:半桥电路 欠压锁定 比较器 毛刺检测 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.16257/j.cnki.1681-1070.2023.0126

馆 藏 号:203123973...

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