基于LK8820测试机的芯片参数测试研究

作     者：余蓓敏 YU Beimin

作者机构：安徽电子信息职业技术学院电子工程学院安徽蚌埠233000 

基　　金：安徽省教育厅项目(KJ2021A1484 2021jyxm0113) 

出 版 物：《长春大学学报》 (Journal of Changchun University)

年 卷 期：2023年第33卷第8期

页      码：19-23页

摘      要：作为LK8810S升级版本的LK8820测试机,硬件资源更加丰富,测试机函数进一步优化。分析了LK8820测试机的特点,并以CD4511芯片为例,通过CD4511测试电路设计和搭建、静态工作电流测试、输出高电平电压测试和输入高电平电流三种参数的测试,探究基于LK8820测试机的芯片参数测试的方法和过程。此种基于LK8820的数字芯片直流参数测试方案可操作性强,测试速度快,推动了OBE理念教学,提升了集成电路产业链效率。

主 题 词：LK8820 CD4511 参数测试 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1009-3907.2023.08.005

馆 藏 号：203123984...