基于Peck模型的汽车电子产品加速试验设计

作     者：刘建飞 王涛 王秀鑫 曲岚峰 杨宸宁 LIU Jianfei;WANG Tao;WANG Xiuxin;QU Lanfeng;YANG Chenning

作者机构：潍柴动力股份有限公司山东潍坊261000 

出 版 物：《汽车电器》 (Auto Electric Parts)

年 卷 期：2023年第10期

页      码：92-94页

摘      要：随着汽车电子产品寿命的不断增加,加速老化寿命试验已成为产品研发过程中必不可少的一环。本文采用Peck模型对汽车电子产品的加速模式进行分析,结合指数寿命分布与MTBF进行加速老化寿命试验设计。通过介绍实际加速老化寿命试验的设计过程,为相关从业者提供参考。

主 题 词：Peck模型 加速老化寿命试验 指数分布 MTBF 汽车电子产品 

学科分类：08[工学] 082304[082304] 080204[080204] 0802[工学-机械学] 0823[工学-农业工程类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-8639.2023.10.029

馆 藏 号：203124054...