基于RO4350B的微带线拐角不连续性分析

作     者：陈龙坡 迟雷 张崇 焦龙飞 桂明洋 CHEN Longpo;CHI Lei;ZHANG Chong;JIAO Longfei;GUI Mingyang

作者机构：中国电子科技集团公司第十三研究所河北石家庄050051 国家半导体器件质量检验检测中心河北石家庄050051 

出 版 物：《电子质量》 (Electronics Quality)

年 卷 期：2023年第9期

页      码：94-97页

摘      要：随着射频/微波/毫米波电路产品尺寸不断朝着小型化和集成化发展,产品检测电路越来越小,检测电路PCB中微带线不得不进行拐角设计。针对业内主流的C波段微带线拐角设计,结合业内广泛应用的罗杰斯RO4350B板材进行仿真分析,对90°直角拐角、3W规则拐角和45°外斜切拐角3种常见的微带线拐角方案进行了仿真比对分析。同时研究了在特定情况下45°外斜切拐角的最佳斜切率,该研究对指导业内射频工程师设计PCB检测电路降低微带线拐角不连续性具有一定的参考意义。

主 题 词：微带线 C波段 3W规则 45°外斜切 

学科分类：0810[工学-土木类] 08[工学] 081001[081001] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1003-0107.2023.09.022

馆 藏 号：203124069...