国产全固态厚膜熔断器高温寿命研究

作     者：雷巧林 王腾研 贾晓 朱恒静 彭昌文 谢强 杨舰 LEI Qiaolin;WANG Tengyan;JIA Xiao;ZHU Hengjing;PENG Changwen;XIE Qiang;YANG Jian

作者机构：中国振华集团云科电子有限公司贵州贵阳550018 中国空间技术研究院北京100094 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2023年第41卷第5期

页      码：92-97页

摘      要：熔断器在经受一定电应力特别是长期工作后会产生寿命疲劳,进而发生失效。选取了航天器用国产全固态厚膜熔断器作为典型品种,开展国产全固态厚膜熔断器高温寿命的研究。将环境温度和工作电流作为变化因子设计不同的试验条件,并在试验过程中监测熔断器冷态电阻的变化趋势及2000、4000 h后熔断时间。最后,对试验结果和数据进行了系统、深入的分析,得出熔断器在不同条件下高温寿命,为熔断器的选型提供了借鉴。

主 题 词：全固态 厚膜熔断器 高温寿命 可靠性 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2023.05.018

馆 藏 号：203124185...