狭缝高度对单色仪光谱分辨率的影响

作     者：张靖 张博 刘凯 王楷炀 冯树龙 李文昊 姚雪峰 ZHANG Jing;ZHANG Bo;LIU Kai;WANG Kai-yang;FENG Shu-long;LI Wen-hao;YAO Xue-feng

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所吉林长春130033 中国科学院大学北京100049 长春光机科技发展有限责任公司吉林长春130033 

基　　金：吉林省科技发展计划(No.20210203053SF) 

出 版 物：《中国光学(中英文)》 (Chinese Optics)

年 卷 期：2023年第16卷第6期

页      码：1442-1449页

摘      要：单色仪广泛应用于光谱定标、物质分析等方面,因此,对于高光谱分辨率单色仪系统的研究具有重要意义。本文基于矢量光栅方程推导考察了入射狭缝高度对光谱仪器谱线弯曲的影响程度,给出了谱线弯曲同波长、狭缝高度的解析表达式,进而提出了一种基于狭缝高度抑制谱线弯曲的单色仪光谱分辨率优化方案。结合高灵敏度、超快时间响应探测器的性能指标要求,设计了一款光谱分辨率为0.1 nm,波段范围为185 nm~900 nm的三光栅单色仪光学系统,并搭建样机验证狭缝高度对谱线弯曲的影响,进一步探究了狭缝高度对光谱分辨率的影响规律。实验结果表明:在狭缝宽度一定时,对狭缝高度进行优化,可将光谱分辨率从0.32 nm提高至0.1 nm。

主 题 词：单色仪 谱线弯曲 狭缝高度 光谱分辨率 

学科分类：0810[工学-土木类] 081203[081203] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0835[0835] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.37188/CO.2023-0004

馆 藏 号：203124497...