AOI设备检验原理与检测技术应用及发展前景分析

作     者：樊成 朱忠发 王彬 黄助兵 李健 张登山 

作者机构：合肥京东方显示技术有限公司安徽合肥230012 

出 版 物：《中国设备工程》 (China Plant Engineering)

年 卷 期：2023年第22期

页      码：4-6页

摘      要：自上世纪以来,各国的电子产业都开始蓬勃发展,进入发展的新纪元,电子工业中由于涉及各种功能不一的元器件,各类元器件纷繁复杂。同时涉及的工艺以及制作流程都越来越复杂,与此同时,元器件的精密度也在不断提高,出现了现有检测设备无法满足要求的情况,为了提高工艺流程的良品率,自动光学检测设备开始应用到产品的制作工序中,给电子工业的生产带来了新的助力,随着自动光学检测设备的不断发展,对AOI设备也有了新的要求,AOI设备正朝着分辨力高、检测速度快、扫描时间短、拍摄图片清晰、操作软件简易化、设计的模块化和系统处理程序化等方向发展。

主 题 词：AOI检测 工艺制程 检测技术应用 

学科分类：083305[083305] 08[工学] 081403[081403] 0814[工学-地质类] 0833[0833] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1671-0711.2023.22.007

馆 藏 号：203124526...