日冕仪系统中三种杂散光的判定与实验研究

作     者：黄玉鹏 张红鑫 丁悦 王泰升 HUANG Yupeng;ZHANG Hongxin;DING Yue;WANG Taisheng

作者机构：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春130033 中国科学院大学北京100049 

基　　金：国家自然科学基金(No.41627806) 

出 版 物：《光子学报》 (Acta Photonica Sinica)

年 卷 期：2023年第52卷第11期

页      码：160-170页

摘      要：针对日冕仪中对杂散光的抑制要求,分析了日冕仪系统中的三种杂散光,包括日冕仪物镜二次反射产生的鬼像点、日冕仪物镜散射点、以及日冕仪孔径光阑衍射光。利用光学建模软件对日冕仪系统进行仿真和分析,发现这三种杂散光的成像位置十分接近且不易区分,并会对系统的检测过程和检测结果产生干扰。根据仿真结果,给出了这三种杂散光的判定与抑制方法,并利用一台视场为±1.08 R⊙~±2.5 R⊙(R⊙表示太阳半径),工作波段为530.3~637.4 nm,通光口径为220 mm,系统总长为4321 mm的内掩式日冕仪进行了理论验证和实验对比,验证了判定方法的可行性。同时设计了掩体和鬼像遮拦结构对杂散光进行抑制,增加了日冕仪系统杂散光抑制的选择方案,提升了日冕仪杂散光检测的准确率。

主 题 词：内掩式日冕仪 杂散光检测 光线追迹 鬼像 散射光 杂散光判定 

学科分类：070207[070207] 07[理学] 08[工学] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 0702[理学-物理学类] 

核心收录：

D　O　I：10.3788/gzxb20235211.1122003

馆 藏 号：203125011...