基于平板探测器的2D-CT成像技术的研究

作     者：傅健 路宏年 FU Jian;LU Hong-nian

作者机构：北京航空航天大学机械工程及自动化学院北京100083 

基　　金：国防科工委基础科研项目(C132003C001) 博士后科学基金项目(2004036038) 北京大学工程研究院科研合作平台建设计划项目(204042) 

出 版 物：《光学技术》 (Optical Technique)

年 卷 期：2005年第31卷第5期

页      码：662-665页

摘      要：大面积非晶硅平板探测器(flat panel detector-FPD)在透射射线成像领域得到越来越多的应用。基于FPD的圆轨道FDK型三维计算机层析成像技术(Computed Tomography,3D-CT)检测速度快,但成像质量不及2D-CT。为发挥3D-CT速度优势,同时提高系统对物体感兴趣区域CT成像的性能,研究了一种基于FPD的、配合3D-CT功能的高像质2D-CT成像技术;提出了一种集噪声抑制、散射校正和高频细节增强于一体的2D-CT投影预处理方法,并完成了基于FPD的2D/3D-CT集成原型系统的研制。系统性能测试结果表明,基于FPD的2D-CT技术成像空间分辨率达3lp/mm,密度分辨率达5‰。

主 题 词：计算机层析成像 平板探测器 2D-CT 3D-CT 射线检测 

学科分类：081203[081203] 08[工学] 0835[0835] 0702[理学-物理学类] 0812[工学-测绘类] 

核心收录：

D　O　I：10.3321/j.issn:1002-1582.2005.05.044

馆 藏 号：203125175...