DSP芯片动态老炼系统设计与实现

作     者：王涛 钱昀莹 韦凯 田旭 WANG Tao;QIAN Yunying;WEI Kai;TIAN Xu

作者机构：中国电子科技集团公司第五十八研究所江苏无锡214062 中国矿业大学(北京)机械与电气工程学院北京100083 

基　　金：国家自然科学基金(51707194) 

出 版 物：《电子设计工程》 (Electronic Design Engineering)

年 卷 期：2024年第32卷第1期

页      码：15-18,23页

摘      要：在集成电路的可靠性筛选试验中,老炼试验是最重要和最有效的试验。针对静态老炼和传统动态老炼方式的局限性,提出了一种DSP芯片动态老炼系统的设计与实现方法。该动态老炼系统实现了老炼程序自动加载,可以实时监测每个工位老炼试验情况,将老炼过程中发现的失效电路及时剔除,试验结果可以自动存储,便于后期进行试验结果分析。相比静态老炼和传统动态老炼方式,该系统测试覆盖率更高,提高了产品可靠性。

主 题 词：DSP 动态老炼 自动加载 可靠性 

学科分类：0711[理学-心理学类] 07[理学] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 080402[080402] 

D　O　I：10.14022/j.issn1674-6236.2024.01.004

馆 藏 号：203125239...