VLSI设计中的高级模型阶简化技术

作     者：胡光华 

作者机构：原中国科学院物理学研究所 

出 版 物：《国外科技新书评介》 (Scientific & Technology Book Review)

年 卷 期：2008年第3期

页      码：16-17页

摘      要：由于高级超大规模集成电路（VLSI）技术互连占优势的现象，互连模型简化在过去10年内已经成为电路分析的重要步骤，互连对系统性能起着显著的作用，因此我们不得不考虑在子线路模块之间的耦合效应。耦合的提取呈现许多寄生现象的小碎片。尽管寄生现象的数值是小的，但因碎片的数量是巨大的，这就使得其累积效应不可忽略，如果不加以处理，寄生现象的数量能够吞食内存容量、消耗众多的CPU时间。

主 题 词：简化技术 模型简化 VLSI设计 超大规模集成电路 寄生现象 耦合效应 CPU时间 电路分析 

学科分类：090706[090706] 0907[农学-草药学] 08[工学] 080203[080203] 09[农学] 0802[工学-机械学] 

馆 藏 号：203125535...