扫描设计中测试逻辑的研究

作     者：肖忠辉 邵寅亮 王磊 商松 

作者机构：北京科技大学 北京中庆微数字设备有限公司 

出 版 物：《电子测量技术》 (Electronic Measurement Technology)

年 卷 期：1998年第21卷第3期

页      码：1-4页

摘      要：文中首先分析了时序元件的不可测因素,提出了扫描设计前增加测试逻辑的设计方法。实践证明,该方法简便易行,故障覆盖率高达99％。

主 题 词：扫描设计 可测性 测试生成 VLSI 

学科分类：080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D　O　I：10.19651/j.cnki.emt.1998.03.001

馆 藏 号：203125598...