用于超快脉冲中子测量的条纹像机系统

作     者：杨建伦 王根兴 温树槐 朱启华 刘忠礼 唐正元 杨洪琼 郭玉芝 

作者机构：西南核物理与化学研究所成都610003 

基　　金：国家高技术863计划惯性约束聚变领域资助 

出 版 物：《激光与光电子学进展》 (Laser & Optoelectronics Progress)

年 卷 期：1999年第36卷第S1期

页      码：86-89页

摘      要：为了测量ICF内爆实验聚变反应的时间过程，建立了计算机MonteCarlo光线追迹程序进行光学辅助设计，研制了主要由BC422塑料闪烁体、消色差透镜组、皮秒条纹像机和制冷增强CCD组成的超快脉冲中子探测系统，其时间响应＜40ps。闪烁体与靶丸的最短距离可达2cm，测量下限中子产额为～108。

主 题 词：惯性约束聚变 中子探测器 条纹像机 光线追迹 

学科分类：080901[080901] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 080401[080401] 0804[工学-材料学] 0803[工学-仪器类] 

馆 藏 号：203125693...