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SAR图像相干斑抑制中的像素相关性测量

SAR图像相干斑抑制中的像素相关性测量

作     者:李光廷 杨亮 黄平平 禹卫东 

作者机构:中国科学院电子学研究所航天微波遥感系统部北京100190 中国科学院研究生院北京100049 内蒙古工业大学信息工程学院呼和浩特010051 

基  金:内蒙古自治区高等学校科学技术研究项目(MJZZ11069) 内蒙古自治区自然科学基金项目(2011BS0904)资助课题 

出 版 物:《雷达学报(中英文)》 (Journal of Radars)

年 卷 期:2012年第1卷第3期

页      码:301-308页

摘      要:像素相关性(Pixel Relativity,PR)测量是权重平均相干斑抑制算法中的关键技术,该文从3个方面对SAR图像中的PR模型进行了研究。首先,该文论述了比值PR模型的合理性,提出了两种新的比值PR模型(对数高斯模型与像素相似概率模型),并将SAR图像概率密度函数与比值概率密度函数转化为比值PR模型;然后,为了对4种PR模型应用于相干斑抑制的性能进行比较,设计了基于PR的权重最大似然滤波器;最后,针对相关性最大值位置不为1的PR模型存在的辐射保持能力差的问题,提出了模型最大值位置校正的方法。理论分析与实验表明了提出模型及最大值位置校正方法的有效性。

主 题 词:SAR图像 相干斑抑制 像素相关性 比值 

学科分类:080904[080904] 0810[工学-土木类] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 081105[081105] 081001[081001] 081002[081002] 0825[工学-环境科学与工程类] 0811[工学-水利类] 

D O I:10.3724/SP.J.1300.2012.20025

馆 藏 号:203125839...

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