GIL支柱绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化过程与放电脆裂机制

作     者：刘智鹏 魏来 李庆民 薛乃凡 胡琦 LIU Zhipeng;WEI Lai;LI Qingmin;XUE Naifan;HU Qi

作者机构：华北电力大学新能源电力系统国家重点实验室北京102206 江西省电力有限公司南昌330000 

基　　金：国家自然科学基金(51737005 52127812 51929701) 

出 版 物：《高电压技术》 (High Voltage Engineering)

年 卷 期：2024年第50卷第1期

页      码：359-369页

摘      要：交流GIS/GIL支柱绝缘子在生产、运行过程中其金属嵌件-环氧界面容易引入气隙缺陷,被认为是导致支柱绝缘子炸裂击穿故障的重要诱因。通过设计带有气隙缺陷的支柱绝缘子并搭建炸裂模拟实验平台,研究了绝缘子嵌件-环氧界面缺陷演化与炸裂过程。基于实验研究结果,将支柱绝缘子炸裂过程分为3个特征阶段:裂纹产生与扩展阶段、断裂阶段、炸裂阶段,气隙缺陷引发的局部放电会诱导裂纹的产生与劣化扩展,导致绝缘子在极短的时间内快速断裂并在多次高能电弧冲击下炸裂,呈现脆性断裂的特征。同时,通过实验分析了影响支柱绝缘子炸裂的关键因素,直流电压下绝缘子的炸裂概率比交流电压低10%~20%。进一步构建了电-机械耦合作用下的裂纹扩展相场仿真模型,分析了支柱绝缘子不同炸裂阶段的主导机制。在裂纹的产生与扩展阶段,电势能起到主要作用;在断裂阶段,电势能的作用逐渐减弱,机械势能逐渐增大并起到主导作用,当机械势能达到材料应力临界点时,绝缘子发生脆性炸裂。该研究成果初步揭示了支柱绝缘子气隙缺陷引发的放电脆裂机制,为支柱绝缘子的故障分析及优化设计提供理论基础。

主 题 词：支柱绝缘子 放电脆裂 界面缺陷 缺陷演化 相场仿真 

学科分类：080801[080801] 0808[工学-自动化类] 08[工学] 0805[工学-能源动力学] 080502[080502] 

核心收录：

D　O　I：10.13336/j.1003-6520.hve.20222005

馆 藏 号：203125849...