电子元器件供应风险评估算法设计

作     者：沈佳塔 徐永亮 丁春光 陈捷宇 张俨 SHEN Jiata;XU Yongliang;DING Chunguang;CHEN Jieyu;ZHANG Yan

作者机构：工业和信息化部电子第五研究所广东广州511370 

基　　金：工业和信息化部基础软硬件供应链保障公共服务平台项目(TC210804A)资助 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2023年第41卷第6期

页      码：23-29页

摘      要：随着逆全球化思潮进一步加剧,地缘威胁逐步加强,企业有必要对电子产品供应链的供应风险进行评估,并根据风险评估的结果采取相应的防范措施,以此保障产品生产制造的平稳运行。设计了一种电子元器件供应风险评估算法,从寿命风险、备件风险、采购风险3个方面结合工程选型经验识别定性风险,基于各风险因子数据表现进行定量评估,并对预期结果表现进行分析,最终通过软件系统以可视化的方式向用户展示了评估结果,为电子元器件选型提供了一定的参考。

主 题 词：供应风险 寿命风险 备件风险 采购风险 

学科分类：120202[120202] 12[管理学] 1202[管理学-工商管理类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2023.06.004

馆 藏 号：203125859...