Ge组分对Si_(1-x)Ge_x HBT反向击穿特性影响的研究

作     者：刘兴辉 王立伟 刘爽 林洪春 何学宇 LIU Xing-hui;WANG Li-wei;LIU Shuang;LIN Hong-chun;HE Xue-yu

作者机构：辽宁大学物理学院辽宁沈阳110036 

基　　金：辽宁省教育厅科研项目资助(L2010152) 辽宁大学博士启动基金(2006009)资助 辽宁大学青年科研基金资助 

出 版 物：《辽宁大学学报（自然科学版）》 (Journal of Liaoning University：Natural Sciences Edition)

年 卷 期：2011年第38卷第1期

页      码：1-4页

摘      要：构建了一个SiGe异质结双极NPN晶体管的物理模型.在分析异质结双极晶体管工作机理的基础上,利用ISE_TCAD软件模拟了Si1-xGex中的Ge组分对器件反向击穿特性的影响.结果表明:在其他参数相同的情况下,增加Ge组分虽可增加晶体管的电流增益,但可导致晶体管的耐压降低,BVcbo、BVceo、BVebo等击穿电压均随x组分的增加而减少.本研究对利用软件实现器件的虚拟制造、以及设计中如何进行合理的组分剪裁从而获取综合性能的优化有一定意义.

主 题 词：SiGe 异质结双极晶体管 ISE_TCAD 反向击穿特性 

学科分类：07[理学] 08[工学] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1000-5846.2011.01.001

馆 藏 号：203125877...