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多封装LCR元件一体式自动测试系统的设计

多封装LCR元件一体式自动测试系统的设计

作     者:申永青 康立鹏 任翔 殷鹏毅 SHEN Yongqing;KANG Lipeng;REN Xiang;YIN Pengyi

作者机构:航天科工防御技术研究试验中心北京100854 

出 版 物:《舰船电子工程》 (Ship Electronic Engineering)

年 卷 期:2023年第43卷第11期

页      码:170-173,219页

摘      要:在元器件鉴定实验室的实际使用场景中,对于小批量多封装的LCR元件快速适配综合参数自动测试需求明显。文章从测试工装设计、多链路射频测试通道切换设计、综合参数自动测试平台设计等方面介绍了一种多封装LCR元件一体式综合测试系统,具有操作简单、兼容性强、测试精度高等优点。

主 题 词:多封装 LCR 元器件可靠性 自动测试 

学科分类:08[工学] 080402[080402] 0804[工学-材料学] 

D O I:10.3969/j.issn.1672-9730.2023.11.034

馆 藏 号:203126145...

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