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硅CMOS红外焦平面64×64元读出电路

硅CMOS红外焦平面64×64元读出电路

作     者:耿爽 杨丽辉 GENG Shuang;YANG Li-hui

作者机构:中国电子科技集团公司第四十七研究所沈阳110032 辽宁省标准化研究院沈阳110003 

出 版 物:《微处理机》 (Microprocessors)

年 卷 期:2008年第29卷第6期

页      码:17-18页

摘      要:介绍了一种红外焦平面64×64元读出电路的主要工作原理、工艺设计及测试技术。根据电路实际的应用和性能需求调节设计和工艺参数,通过对红外探测器产生的信号进行积分、取样,并在DIC-8032测试系统上利用特殊的测试方法完成电路的测试,从而使电路达到最佳性能指标。

主 题 词:红外焦平面阵列 读出电路 测试方法 

学科分类:080903[080903] 0809[工学-计算机类] 08[工学] 

D O I:10.3969/j.issn.1002-2279.2008.06.006

馆 藏 号:203126481...

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