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HXMT高能电子学测试系统的研制

HXMT高能电子学测试系统的研制

作     者:余庆龙 张智 季建峰 刘聪展 YU Qing-long;ZHANG Zhi;JI Jian-feng;LIU Cong-zhan

作者机构:清华大学工程物理系北京100084 清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室北京100084 清华大学高能辐射成像国防重点学科实验室北京100084 

基  金:973项目"黑洞以及其它致密天体物理的研究"(2009CB824800) 国家自然科学基金重点项目"基于光电效应的空间X射线偏振仪研究"(10978001)支持 

出 版 物:《核电子学与探测技术》 (Nuclear Electronics & Detection Technology)

年 卷 期:2010年第30卷第8期

页      码:1003-1007,1021页

摘      要:介绍了为正在研制的HXMT高能电子学系统(ES/HE)研制的一套专用的测试系统。分析了测试系统功能需求,对测试系统进行了整体设计,并着重描述了测试系统中几个主要功能模块的实现原理及方法。

主 题 词:HXMT 测试系统 复合晶体探测器 LVDS.USB 

学科分类:08[工学] 081101[081101] 0811[工学-水利类] 081102[081102] 

核心收录:

D O I:10.3969/j.issn.0258-0934.2010.08.001

馆 藏 号:203127170...

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