基于迁移学习的嵌入式实时系统缺陷研究

作     者：韩邢健 曹宇 HAN Xingjian;CAO Yu

作者机构：工业和信息化部电子第五研究所广东广州511370 

出 版 物：《电子产品可靠性与环境试验》 (Electronic Product Reliability and Environmental Testing)

年 卷 期：2024年第42卷第1期

页      码：27-33页

摘      要：为了减少环境变化对软件缺陷评估的影响,提出了一种基于迁移学习的嵌入式实时控制系统软件缺陷评估方法。首先,选择缺陷软件测量指标;在此基础上,利用特征聚类技术将相关的索引特征划分为同一个聚类;然后,根据两项间特征的分布相似性,找到相关特征,去除分布差异较大的特征;最后,从源项目中选择高质量的特征,构建训练数据集,通过权重调整,从源项目中选择更好的评价数据,实现对软件缺陷的准确评价。映射结果目标明确,设计方法的评价结果的错误率在8.7%以内,具有良好的评价效果。

主 题 词：迁移学习 嵌入式实时控制系统 缺陷评估 测量指标 聚类技术 分布相似性 

学科分类：08[工学] 0835[0835] 081202[081202] 0812[工学-测绘类] 

D　O　I：10.3969/j.issn.1672-5468.2024.01.005

馆 藏 号：203127323...